中出欧美-а天堂中文在线官网-国精产品一二三区传媒公司-国产精品久久久久乳精品爆-日本伊人精品一区二区三区-欧美精品偷自拍另类在线观看

果蠅顯微操作精細鑷子

瑞士Dumont鑷子介紹Dumont集傳統專業知識和技術于一身。其產品全部由Dumont公司制造，并在內部印有“A.Dumont&FilsMadeinSwitzerland”的印章。正是Dumont對高品質的追求使其完成對高品質鑷子的制造。DuMont成立于1881年。它是最后幾家全部在瑞士生產的鑷子制造商之一，也是一家獨立的家族企業。公司享有完整的財務和創新自主權，因此能夠設計、開發和制造專家們普遍認為是高品質的鑷子。果蠅顯微操作鑷子目前用于果蠅顯微操作的杜蒙（Dumont...

查看更多

核磁兼容LED光源(MRI compatible LED light sources)

核磁兼容LED光源德國MRC公司提供核磁兼容的相機，作為必要的配件，還提供磁共振成像兼容光源。這些LED光源，可用于眼球跟蹤（eye-tracking）或面部監測（facemonitoring）等應用中的照明。MRC的LED光源分兩種：小型孔內應用的MRCLED和長距離應用的MR-LED-ARRAY-18X。孔內“MRCLED”可以安裝在攝像頭旁邊。MR-LED-ARRAY-18X可用于照亮更遠距離的主體或物體。還有一種窄光束角版本，可用于照亮被攝體的眼睛或面部等。核磁共振：...

查看更多

EBAC/RCI 原理和應用-Kleindiek EBIC放大器

EBAC（ElectronBeamAbsorbedCurrent）RCI（ResistiveContrastImaging）芯片工藝進入55納米/65納米技術節點后，EBAC技術被引入并得到迅速發展。現如今，EBAC、RCI已成為芯片失效分析（failureanalysis,FA）的主要工具之一，用于IC線路的短路，斷路，高阻缺陷的隔離和精確定位。原理：為了探測芯片的特定電路區域，EBAC系統配備了納米探針和掃描電子顯微鏡(SEM)。當電子束（primaryelectronb...

查看更多

小鼠內窺鏡的特點和使用注意事項

小鼠內窺鏡是一種專為小鼠等小動物設計的內窺鏡系統，它允許研究人員或獸醫在不進行解剖的情況下，直接觀察小鼠體內的器官和組織。儀器通常由鏡頭、光源、圖像傳感器、通氣系統等部分組成。鏡頭部分可彎曲，以適應小鼠體內復雜的解剖結構；光源用于照亮觀察區域；圖像傳感器則將觀察到的圖像轉換為電信號，再通過顯示器呈現給用戶。此外，一些高級的小鼠內窺鏡系統還配備了智能通氣系統，以維持觀察區域的充盈狀態，并防止過度充氣對小鼠造成傷害。具有如下功能特點：1、高分辨率成像：小鼠內窺鏡采用高像素CMOS...

查看更多

T迷宮（T-Maze）和果蠅嗅覺學習記憶（Olfactory Shock Learning）

果蠅用于經典條件反射（classicalconditioningexperiments）實驗已有40多年的歷史，極大地促進了我們對學習記憶的理解，包括對認知疾病（cognitivediseases）分子機制（molecularmechanisms）和神經環路（NeuralCircuits）的闡明。認知疾病（cognitivediseases）包括：神經發育不良、神經損傷或者神經退行性疾病等。通過學習和記憶的研究，既可以在果蠅幼蟲中考察神經發育基因（neuro-developm...

查看更多

帶位置編碼器的納米機械手-MM3E

德國Kleindiek公司的MM3E以經典的，廣泛使用的MM3A-EM微納米操縱儀韋基礎，具有與MM3A相同的緊湊性、精確性和穩定性，并結合了閉環位置反饋功能（closed-looppositionalfeedback）。這一改進為提高系統的易用性提供了手段（例如，通過定義停止位置parkingposition和工作位置workingposition，一鍵點擊，使機械手前端的探針到達目標位置，大大提高了工作效率）。MM3E與市場上幾乎所有的SEM或FIB/SEM兼容。它配備了...

查看更多

基于視頻的果蠅行為學分析系統-睡眠（sleep）和攝食（feeding）行為

動物的行為決策是通過將內部狀態（internalstates）與外部刺激（externalstimuli）和先前經驗（priorexperience）相結合而形成的。對睡眠和食物的需求就是這樣兩種內部狀態，滿足這兩種平衡過程（homeostaticprocesses）對生存同樣重要。然而，睡眠和進食也是相互排斥的：它們不能同時發生。因此，在具有挑戰性的環境條件下，需要優先考慮相互排斥的行為，以最大限度地提高生存率。在不同的動物模型和人類身上，睡眠和進食調節都得到了廣泛的研究。...

查看更多

Nanoprobing在半導體器件失效分析（Failure Analysis，FA）中的應用

隨著集成電路（IC）元件尺寸的不斷縮小，基于掃描電子顯微鏡（SEM）的納米探針（Nanoprobing）已成為集成電路（IC）故障分析（FA）中廣泛地使用的一種技術，用于表征微芯片的性能，以及定位和分析缺陷的根本原因。Fig.1Sixprobesincontactwitha14nmsampleNanoproing技術在先進制程工藝產品（7nm，5nm，3nm），為了對單個晶體管的源極、漏極和柵極，芯片特定位置的金屬節點和芯片內部的互連結構進行探測，就需要用到Nanoprobi...

查看更多