德國kleindiek超微力測量系統(tǒng)是高精度微力測量測試系統(tǒng)，它與顯微操作器聯(lián)合使用,用于測量納米壓痕和超微力測量,還可用于測量細(xì)胞力學(xué),楊氏模量,微機(jī)電系統(tǒng)MEMS的彈簧常數(shù)和共振頻率的彈性參數(shù)。

產(chǎn)品型號：FMS-LS

更新時間：2024-12-09

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德國Kleindiek

Prober Shuttle 納米探針臺 EBIC 微納米操縱儀夾具微納操縱儀插件顯微操縱器

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產(chǎn)品介紹

這款超微力測量系統(tǒng)是高精度微力測量測試系統(tǒng)FMS-LS，它與顯微操作器聯(lián)合使用,用于測量納米壓痕和超微力測量,還可用于測量細(xì)胞力學(xué),楊氏模量,微機(jī)電系統(tǒng)MEMS的彈簧常數(shù)和共振頻率的彈性參數(shù)。
超微力測量系統(tǒng)FMS-LS特點
超微力測量系統(tǒng)調(diào)節(jié)器連接附件，調(diào)節(jié)器顯示力反饋，并且在揚聲器上播放材料的諧振頻率。
由具有集成吸管夾持器的力傳感器，具有前置放大器和揚聲器的控制模塊，PC軟件，電源，和操作者的手冊組成。